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产品图片
产品名称/型号
产品简单介绍
TRC-220B 膜厚计
TRC-220B
膜厚计TRC-220B方式:低周波高电压加放电式报警方式:报警灯
TRC-220A 膜厚计
TRC-220A
膜厚计TRC-220A方式:低周波高电压加放电式报警方式:报警灯
TRC110B 膜厚计
TRC110B
膜厚计TRC110B方式:底座波高压PLUS放电式
TRC-110A 膜厚计
TRC-110A
膜厚计TRC-110A
UNIBOY-M 电磁式膜厚计
UNIBOY-M
电磁式膜厚计UNIBOY-M袖珍型
SDM-picoR 电磁式膜厚计
SDM-picor
膜厚计SDM-picoR带打印输出、检量线和测定值储存型
SME-1 膜厚计
SME-1
膜厚计SME-1电磁锈导、涡电流两用基本型
EDY-II 膜厚计
EDY-II
膜厚计EDY-II 多功能管理型
UNIBOY-E 膜厚计
UNIBOY-E
膜厚计UNIBOY-E袖珍型
PosiTest DFT- Combo 膜厚计
PosiTest DFT- Combo
膜厚计 PosiTest DFT- Combo 美国DeFelsko公司采用磁性及涡流原理测量磁性基体上非磁性涂层的厚度或有色金属基体上不导电涂层的厚度(只需一个内置测头)。为无损测量,快速重复测量,精度为读数的3%,量程0-1000微米;自动校对,自动复位到出厂时设置,公英制转换等功能。测头耐酸、耐油、耐有机溶液及灰尘;仪器重70克;外形尺寸100X38X23mm;附有标准片及皮包,中、英文操作说明书,碱性电池。
超声波测厚仪|膜厚仪
MT150|MT-150
超声波测厚仪|膜厚仪MT150|MT-150智能型超声波测厚仪,采用最新的高性能、低功耗微处理器技术,基于超声波测量原理,可以测量金属及其它多种材料的厚度,并可以对材料的声速进行测量。
超声波测厚仪|膜厚计
MT160|MT-160
超声波测厚仪|膜厚计MT160|MT-160是智能型超声波测厚仪,采用最新的高性能、低功耗微处理器技术,基于超声波测量原理,可以测量金属及其它多种材料的厚度,并可以对材料的声速进行测量。
超声波测厚仪|膜厚计
MT200|MT-200
超声波测厚仪|膜厚计MT200|MT-200是智能型超声波测厚仪,采用最新的高性能、低功耗微处理器技术,基于超声波测量原理,可以测量金属及其它多种材料的厚度,并可以对材料的声速进行测量。
德国思创SaluTron ComBi D3 涂层测厚仪
ComBi D3
德国思创SaluTron ComBi D3 涂层测厚仪 德国原装进口思创D3便携式测厚仪操作简单,功能强大,小巧便携。该仪器机身与探头一体,复合型探头,可自动识别,既可用于磁性金属也可以用于非磁性金属表面的覆层厚度的测量
QNix 1200|涂层测厚仪| QNix 1500|膜厚计
QNix 1200
QNix 1200|涂层测厚仪| QNix 1500|膜厚计1.只需调零、无需校准 2.Fe/NFe两用探头 3.一体化设计 4.自动开关机 5.单探头量程达5000μm 6.直角设计方便测量沟漕
QNix 4200|涂层测厚仪| QNix 4500|膜厚计
4200
QNix 4200|涂层测厚仪| QNix 4500|膜厚计1.只需调零、无需校准 2.Fe/NFe两用探头 3.一体化设计 4.自动开关机
QNix 7500|涂层测厚仪|keyless 7500(记忆型)膜厚仪
7500
QNix 7500|涂层测厚仪|keyless 7500(记忆型)膜厚仪1.只需调零、无需校准 2.Fe/NFe、Fe、NFe多种探头可选 3.一体化、分体自由组合 4.自动开关机 5.可配多种探头 6.可存储3900组数据(7500记忆型)
QNix 8500涂层测厚仪|膜厚计
QNix 8500
QNix 8500涂层测厚仪|膜厚计1.高精度、大量程 2.一体化设计,可更换探头 3.可选择单点或两点校准 4.中文操作菜单 5.背光液晶 6.数据无线传输
QNIX8500薄型探头MIFE500
QNIX8500
QNIX8500薄型探头MIFE500 MIFE500薄型探头是德国公司最新研发的,专门测量很薄的镀层厚度。它超高的测量精度和重复性为测量很薄的镀层提供了有效的手段。MIFE500根据磁感应原理研制,可以用来测量所有磁性基体上的非磁性涂镀层。
DM-213厚度表
DM-213
DM-213厚度表型号 精度(mm) 测定时间(mm) 测头形状 测定力N(gf)以下 寸法(mm) 形状尺寸a×b(mm) 重量 特长DM-213 10(220) 1/8″钢球 295 可换测杆5支
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