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产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	STC4000\|快速光色电综合测试系统\|CCD光谱仪 STC4000	STC4000\|快速光色电综合测试系统\|CCD光谱仪STC4000是一个紧凑型多通道CCD光谱仪,测量速度快，性价比高，适用于测试速度要求高的场合；然而，由于杂散光多，高暗噪声输出，高温依赖性和窄动态范围，这种紧凑型快速光谱仪的精度不高。主要用于快速测量LED的相对光谱功率分布、色品坐标、相关色温、显色指数、色容差、光谱半宽度、主波长、色纯度、光通量、光效、光辐射功率、正反向电性能.
	PMS-80 Sync-Skan LED精密光色电测试系统 PMS-80 Sync-Skan	PMS-80 Sync-Skan LED精密光色电测试系统PMS-80是单色仪光谱仪研究制造经验与现代技术相结合的产物，该新型光谱仪在保持与传统单色仪光谱仪相同精度的同时,测量速度大大提高。采用远方专利Sync-Skan快速采扫同步技术，380nm-780nm间的光谱只需数秒即可完成，远远快于传统机械扫描系统的几分钟测量时间。
	PMS-50\|增强型LED精密光色电测试系统 PMS-50	PMS-50\|增强型LED精密光色电测试系统PMS-50是应用最为广泛的单单色仪光谱仪。“PMS-50+单只标准灯”实现从0.1lm～200，000lm全动态范围内0.3%线性的光谱法光通量测量，解决单颗LED、LED芯片、LED荧光粉、LED模块、LED日光灯条、LED路灯、LED显示屏等所有光源（配不同积分球）的相对光谱辐射功率
	LHS-1000\|单颗LED光色热一体化测试系统 LHS-1000	LHS-1000\|单颗LED光色热一体化测试系统集色参数、光度参数、电参数、结温热阻测试功能于一体，可同时实现LED在不同温度或工作电流下的瞬态和稳态参数的测量。测试功能强大、软件功能丰富、测试精度高，满足科研及质检机构、工程分析等不同客户的需求。
	LED芯片光色电测试系统 LED芯片光色电测试系统	LED芯片光色电测试系统可用于测量相对光谱功率分布，色品坐标，主波长，峰值波长，光谱纯度，色温，显色指数，半宽度，光通量，辐射功率，红色比，色容差、正向电压、正向电流、反向电压、反向电流等参数。
	LED626\|LED分布光度计 LED626	LED626\|LED分布光度计LED可自动沿水平轴和竖直轴自动转动，主要用于测量LED的正向电流、正向电压、反向漏电流、反向电压，三维光强分布曲线，总光通量，最大光强，中心光强，光束角（也称角度），内置恒流源。
	LED620\|LED光强分布测试仪 LED620	LED620\|LED光强分布测试仪LED可自动沿竖直轴自动转动，沿水平轴手动转动，可绘制三维光强分布图（极坐标或直角坐标）；光束角和正反向电性能的分析测量，内置恒流源。受光面尺寸1cm2标准级（CIE Class A）光度探测器，完全符合最新ISO/CIE国际标准要求。
	LED522\|LED光强测试仪 LED522	LED522\|LED光强测试仪主要用于生产线LED光强值(mcd或cd)、光束角及正反向电性能参数的快速人工测量，LED可沿水平轴和竖直轴手动转动，内置恒流源，测试条件完全符合CIE条件A或CIE条件B，采用国家一级（Class B)高灵敏度光度探头，并可以根据用户设定的限值进行光强分级。
	LED520\|LED光强自动分布测试仪 LED520	LED520\|LED光强自动分布测试仪专用于LED光强和光强分布曲线(极坐标或直角坐标)的快速测量。LED绕水平轴自动旋转和竖直轴手动旋转，绘制三维空间光强分布曲线、自动测定光束角及正反向电性能参数，内置恒流源。
	LED310\|结温热阻测试仪\|LED-310\|LED热电性能分析仪 LED-310	LED310\|结温热阻测试仪\|LED-310\|LED热电性能分析仪LED310 LED热电性能分析仪按照国标GB/T4023-1997、部标SJ 20788-2000、美军标MIL-STD-750D、国际JEDEC JESD 51、部标QB/T XXXX-2008普通照明用发光二极管性能要求（送审稿）等国际和我国最新制定的标准设计
	LED101\|LED标准校准源\|LED-101 LED-101	LED101\|LED标准校准源\|LED-101高性能的LED标准校准源主要用于校准LED光度、色度和辐射度仪器，是LED发光特性准确测量的基础。LED101 LED标准校准源，采用半导体精密制冷技术，直接测量并控制LED PN 结温度，并精密恒流驱动，因此具有极高的输出稳定性及复现性。
	HAAS-2000\|高精度快速光谱辐射计\|光谱辐照计\|HAAS2000 HAAS-2000	HAAS-2000\|高精度快速光谱辐射计\|光谱辐照计\|HAAS2000HAAS-2000采用世界最先进的平场凹面衍射光栅和科学级CCD，可同时实现毫秒级的测量速度和实验室级的测量精度。同时远方独创的带通色轮校正技术(BWCT)和分光－积分结合技术(SBCT)，均使HAAS-2000的线性动态范围和杂散光处理水平处于国际领先水平。
	Flash-10\|LED芯片计数器 Flash-10	Flash-10\|LED芯片计数器Image IC LED芯片计数系统实现LED芯片的计算机自动计数，代替了传统人员计数，可以实现快速、准确的LED芯片计数。技术特性：(1) 适用于各种规格尺寸及各种颜色的芯片计数
	DJ5000\|LED加速老化试验仪（小功率型）DJ-5000 DJ-5000	DJ5000\|LED加速老化试验仪（小功率型）DJ-5000采用电流、频率、占空比、老化时间均智能可调的6组独立恒流电源对480个工位LED进行单独供电，从而实现额定参数的常规老化试验和过载冲击加速老化试验。内置微电脑控制，具有可靠性好、调节方便、使用寿命长的优点，是LED老化试验的理想设备。
	DJ5000\|LED加速老化试验仪\|DJ-5000\|大功率型加速老化试验仪 DJ-5000	DJ5000\|LED加速老化试验仪\|DJ-5000\|大功率型加速老化试验仪采用电流、频率、占空比、老化时间均智能可调的6组独立恒流电源对60个不同工位LED进行单独供电，从而实现额定参数的常规老化试验和过载冲击加速老化试验，内置微电脑控制，具有可靠性好、调节方便、使用寿命长的优点，是LED老化试验的理想设备。提供多组输出，每组输出电参数可单独控制，每组具有互不影响的单独输出的多个工位


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